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人工晶狀體襻抗拉強(qiáng)度測(cè)試儀采用數(shù)字閉環(huán)控制，AD采集速度為500KHz，內(nèi)碼100萬；高精度時(shí)鐘芯片，斷電存儲(chǔ)；PLC可編程控制，動(dòng)態(tài)顯示加載力值；過載報(bào)警停機(jī)保護(hù)。

人工晶狀體測(cè)試儀可選擇多級(jí)密碼權(quán)限保護(hù)。公稱規(guī)格、施加載荷、試驗(yàn)時(shí)間、測(cè)試次數(shù)、上行、下行、時(shí)間、標(biāo)定。由觸控操作液晶顯示屏上的菜單，機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù)可自動(dòng)計(jì)算不合格數(shù)及合格率。拉人工晶狀體知道襻斷裂,或襻與片分離,或在拉力達(dá)到0.25N時(shí)停止。實(shí)時(shí)顯示實(shí)際施加載荷及試驗(yàn)時(shí)間，有設(shè)定值保持測(cè)試與破壞性拉脫測(cè)試2種實(shí)驗(yàn)方法。

人工晶體動(dòng)態(tài)疲勞耐久性測(cè)試儀：液晶顯示屏，中文菜單顯示。公稱規(guī)格、試驗(yàn)載荷、打印、測(cè)試、上行、下行、時(shí)間、標(biāo)定。由鍵盤控制液晶顯示屏上的菜單，平均值、最大值、最小值等；自動(dòng)輸出數(shù)據(jù)報(bào)告，機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù)。

人工晶體壓縮力與衰減測(cè)試儀：由鍵盤控制液晶顯示屏上的菜單，平均值、最大值、最小值等；自動(dòng)輸出數(shù)據(jù)報(bào)告，機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù)，

人工晶狀體測(cè)試儀由觸控操作液晶顯示屏上的菜單，機(jī)載打印測(cè)試數(shù)據(jù)可自動(dòng)計(jì)算不合格數(shù)及合格率。

人工晶狀體測(cè)試儀是電子天平式全封閉測(cè)試，用于測(cè)試人工晶狀體在規(guī)定時(shí)間內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下在一個(gè)處方直徑內(nèi)，測(cè)量殘余壓力，配有各種規(guī)格的跨距塊安裝晶狀體，符合YY0290相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)完成。